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      • ME 標準精密天平 METTLER TOLEDO

        ME精密天平量程高達4200g,可讀性為1mg/0.01g,采用人體工程學設計使這些質量入門級天平的日常常規稱量輕松高效。

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        更新日期:2023-03-01
      • XPR 微量和超微量天平 METTLER TOLEDO

        XPR微量和超微量天平大量程高達10.1g,可讀性為0.1ug,融合了各種創新的新技術,使其擁有同類產品的更高精度,可幫助您使微量稱量任務更簡單、更安全也更可靠。

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      • XPR 微量分析天平 METTLER TOLEDO

        XPR微量分析天平的可讀性范圍為0.001mg至0.01mg,大量程為52g,可滿足對于微量分析稱量的所有要求。 XPR微量分析天平非常適合在各種大小的實驗室器皿中準確稱量較小量的珍貴樣品。*的準確性和極低的小稱量值可使您稱量很少量的樣品,從而節省大量材料與降低成本。

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      • 超越系列XSR精密天平 METTLER TOLEDO

        XSR精密天平的可讀性范圍為1mg至1g,量程為310g 至32kg。如果樣品處理量大和時間緊是您在實驗室內面對的主要挑戰,那么 XSR精密天平是您的理想之選。它們的設計與功能可確保在較短的時間內提供一致的稱量結果。

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      • 超越系列XPR精密天平 METTLER TOLEDO

        XPR精密天平的可讀性范圍為 0.1mg至1g,量程為200g至64kg。 即使在較惡劣的稱量條件下, XPR精密天平也可提供較準確的稱量結果。 創新型 SmartPan™ 易巧秤盤可較大限度減小氣流對稱量單元的影響,在標準條件下,甚至可使用無防風罩的1mg天平。

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      • PL-E 便攜式天平 METTLER TOLEDO

        ME分析天平量程高達8200g,可讀性為0.01g/0.1g,隨時隨地實現可靠稱量,適應性強、設計緊湊輕便,是您在有限空間內獲得準確結果的理想解決方案。

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        更新日期:2023-03-01
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